本文确定和解释了用涡流法测量钛上有机涂层厚度时层厚测量仪产生误差的原因;用光截面法纠正了涡流层厚测量仪的读数;进而拟定了测量条件和技术。
S. Sekowki,赵军.钛的有机涂层厚度的测量[J].稀有金属材料与工程,1981,(1).[.[J]. Rare Metal Materials and Engineering,1981,(1).]DOI：[doi]