+高级检索
高纯钨中18个痕量杂质元素的光谱测定
DOI:
作者:
作者单位:

作者简介:

通讯作者:

中图分类号:

基金项目:


Author:
Affiliation:

Fund Project:

  • 摘要
  • |
  • 图/表
  • |
  • 访问统计
  • |
  • 参考文献
  • |
  • 相似文献
  • |
  • 引证文献
  • |
  • 资源附件
  • |
  • 文章评论
    摘要:

    本工作采用发射光谱测定了纯钨中硅、铝、锰、镁、锑、铅、铁、铬、钴、钛、铋、镍、钒、钼、锡、钙、镉、铜等18个痕量元素,并对载体、缓冲剂组成、电极形状、电流强度、预烧、曝光时间的选择进行了研究。本方法特点:快速、简便,测定灵敏度达到0.1—1ppm,相对标准偏差9.4—21.4%,回收率在78—123%之间,能满足科研和生产的要求。

    Abstract:

    参考文献
    相似文献
    引证文献
引用本文

胡鑫弟,梁宝兰.高纯钨中18个痕量杂质元素的光谱测定[J].稀有金属材料与工程,1985,(4).[.[J]. Rare Metal Materials and Engineering,1985,(4).]
DOI:[doi]

复制
文章指标
  • 点击次数:
  • 下载次数:
  • HTML阅读次数:
  • 引用次数:
历史
  • 收稿日期:
  • 最后修改日期:
  • 录用日期:
  • 在线发布日期:
  • 出版日期: