本工作采用发射光谱测定了纯钨中硅、铝、锰、镁、锑、铅、铁、铬、钴、钛、铋、镍、钒、钼、锡、钙、镉、铜等18个痕量元素,并对载体、缓冲剂组成、电极形状、电流强度、预烧、曝光时间的选择进行了研究。本方法特点:快速、简便,测定灵敏度达到0.1—1ppm,相对标准偏差9.4—21.4%,回收率在78—123%之间,能满足科研和生产的要求。
胡鑫弟,梁宝兰.高纯钨中18个痕量杂质元素的光谱测定[J].稀有金属材料与工程,1985,(4).[.[J]. Rare Metal Materials and Engineering,1985,(4).]DOI:[doi]