本文介绍在X射线衍射仪上应用微型计算机测定全极图数据处理的系统,叙述了APPLEⅡ输入输出接口的研制,对全极图测定过程及BASIC语言程序作了扼要的分析。
喻永进.应用微计算机的全极图测定数据处理系统——APPLEⅡ微机外围设备接口的研制[J].稀有金属材料与工程,1986,(5).[.[J]. Rare Metal Materials and Engineering,1986,(5).]DOI：[doi]