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工艺条件对YBCO厚膜基带晶粒取向的影响
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TM262

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Influence of Process Conditions on Substrate Grain Orientation of YBCO Thick Film
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    用X射线方法研究了平行于基带表面的Ni(20O),Ni(111),NiO(200)和NiO(111)晶面的取向分数W。结果表明,随预热处理温度的提高,虽然W_(NiO(200))也会随之提高,但是区域重加热处理对提高W_(NiO(200))起着最重要的作用。900℃预热处理之后,在1100℃进行区域重加热可使W_(NiO(200))提高到0.99以上。

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引用本文

刘春芳 唐辉.工艺条件对YBCO厚膜基带晶粒取向的影响[J].稀有金属材料与工程,1994,(4):42~45.[Liu Chunfang, Tang Hui, Xu Jingren, Zhou Lian. Influence of Process Conditions on Substrate Grain Orientation of YBCO Thick Film[J]. Rare Metal Materials and Engineering,1994,(4):42~45.]
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