O653.7
采用以一定比例的ＨＮＯ３和ＨＣｌ为介质，使钨沉淀成钨酸与杂质分离，然后用碳粉吸附杂质再进行光谱测定的方法，对高纯钨（包括金属钨、三氧化钨、钨酸、钨酸铵）中１５个杂质元素Ｆｅ、Ｎｉ、Ｃｕ、Ｍｎ、Ａｌ、Ｖ、Ｃｒ、Ｃｏ、Ｃａ、Ｍｓ、Ｐｂ、Ｓｎ、Ｂｉ、Ｃｄ、Ｂｅ进行了测定，取得了理想的结果，测定下限可达（０．１～０．５）×１０（－６）。
余国华,陈觉.高纯钨中杂质元素的化学光谱法测定[J].稀有金属材料与工程,1994,(5).[Yu Guohua, Chen Jue. Methods for the Determination of the Trace Impurities in High Purity Tungsten by Chemical Spectrometry[J]. Rare Metal Materials and Engineering,1994,(5).]DOI：[doi]