TG146.23
采用发射光谱分析技术,研究了钛及钛合金中Zr,Ru,Pd,Hf,Cu,Y,V,Mo,Nb,Al,Co,Ni,Ta,Bi,Sn,Cr,Mn的光谱测定方法。结果表明,选用碳粉作为缓冲剂,使用浅孔电极和大电流激发,一次摄谱可同时测定17个杂质元素。测定下限为3×10-4%～15×10-3%,相对偏差在15%以内。
胡文珍.光谱法测定钛及钛合金中的微量杂质元素[J].稀有金属材料与工程,2000,(1):64~67.[Hu Wenzhen. Spectral Determination of Trace Impurity Elements in Ti and Its Alloys[J]. Rare Metal Materials and Engineering,2000,(1):64~67.]DOI：[doi]