低浓度的其它元素强烈地影响钨的高温行为。例如众所周知的活化烧结、延缓晶粒长大、产生二次再结晶和提高高温蠕变性能等。该模型预言,这些元素对结构缺陷迁移率的影响是由于三元(W-O-M)偏析过程造成的。人们认为粉末冶金钨中的氧是一个重要的因素,因为它在高温下能迅速扩散而增加缺陷的迁移率。元素M既能提高氧向缺陷的偏析,从而增加缺陷的迁移率;反过来,它也可以降低氧的偏析或者与氧结合导致缺陷迁移率的下降。