TG146.18 TG115.33
利用直接光谱法测定锑中Ａｓ、Ｃｏ、Ｂｉ、Ｐｂ、Ｃｒ、Ｓｎ、Ｍｇ、Ｆｅ、Ａｌ、Ｎｉ、Ｃｄ、Ｃｕ、Ｚｎ、Ａｇ等微量杂质，选择石墨粉作为缓冲剂，改善了谱线的重复性，对样品处理进行了详细的分析研究，以最佳的光谱测定条件，使元素测定下限达到３×１０－４％─３×１０－３％，相对误差在２２％以内，为金属锑纯度的全面分析建立了可靠的分析方法。
胡文珍.金属锑中微量杂质的光谱测定[J].稀有金属材料与工程,1994,(6):52~55.[Hu Wenzhen. Spectrometric Determination for Trace Impurities in Stibium[J]. Rare Metal Materials and Engineering,1994,(6):52~55.]DOI：[doi]